前沿拓展：

cd rom是什么

說明這是一張CD光盤,cd-rd光驅(qū)就可以識別讀取數(shù)據(jù)的光盤，當(dāng)然vcd光驅(qū)，**d光驅(qū)也可以讀取，因為vcd光驅(qū)和**d光驅(qū)都兼容cd

引言

這里以在實際工作中遇到的Bulk光頭讀Pit深度超規(guī)格 碟片時出現(xiàn)啟動NG或啟動延遲問題為例，通過分析及實際 測試

，提出了一種解決此類問題的方法。

1 問題原因分析

1.1 PP-TE伺服方式說明

產(chǎn)生問題時bulk光頭采用的伺服方式是PP-TE。PP-TE信 號產(chǎn)生方法利用了光的回折格子的特性，回折格子的特性 是指

： 0次光和 ± 1次之間干涉形成明暗相間的條紋，溝深 λ/4 時，pit邊沿處形成的回折格子的明暗效果最好。如圖1

所示。

PD上光強分布如圖2。(光點分別在位置①②③時，對

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/201702/344437.htm

圖1 回折格子的明暗效果

圖2 PD上光強分布示意圖

圖3 伺服信號TE/FE波形圖

圖4 光路示意圖

圖5 DPD-TE產(chǎn)生示意

應(yīng)的PD的示意圖如圖2所示，PP-TE=A-B)。

1.2 PP-TE伺服方式不穩(wěn)定原因

圖3為光點分別在圖1所示位置①②③時，對應(yīng)的PP-TE

的波形示意圖及PP方式下伺服信號波形圖。

在PP方式下，Bulk光頭讀Pit深度超規(guī)格CD-ROM，與通 常碟片比較，PP-TE信號的幅值輸出約為正常品的1/2～2/3， FBAL調(diào)整后PP-TE信號的TEc變化較大,導(dǎo)致Tracking/seek伺服 控制裕度降低，最終引起啟動NG或啟動延遲。

2 伺服對策方法

2.1 對策方法概要

第一，對于PP方式下FBAL調(diào)整后的TEc變動問題，對 策方法為FBAL調(diào)整后，伺服控制再次對TEc進(jìn)行補償。其 次，對于pit深度超規(guī)格CD-ROM的PP-TE方式伺服控制的裕 量 不 足 問 題 ， 對

策方法為CD-ROM

啟動時，第一采用 P P (P u s h – p u l l) -T E 伺 服 方 式 ， 然 后 判 斷 TE/A s信 號 幅 值。 如果TE/A S信 號 幅 值 小 于 設(shè) 定 的 閥 值 ， T E 伺 服 方 式 變 更 為 D P D ( D i f f e r e n t i a l P h a s e Detection)方式；如 果 T E / A S 信 號 幅 值 大 于 設(shè) 定 的 閥 值 ，TE伺服方式仍采用PP方式。當(dāng)CD-R/RW起動時，仍采用

PP-TE伺服方式。

2.2 DPD-TE方式說明

2.2.1 光路示意圖如圖4所示。

2.2.2 DPD-TE產(chǎn)生示意如圖5所示。

圖 6 為 光 點 分 別 在 如 圖 1 所 示 位 置 ① ② ③ 時 ， 對 應(yīng) 的

DPD-TE的波形示意圖及DPD方式下伺服信號波形圖。

循跡伺服方式變更后，伺服信號變好，Bulk光頭讀Pit 深度超規(guī)格CD－ ROM碟片時不良現(xiàn)象消失， 經(jīng)過測試確 認(rèn)，循跡伺服方式變更對其它碟片的讀盤能力無影響。

圖6 伺服信號TE/FE波形圖

3 結(jié)論

本文針對Bulk光頭讀Pit深度超規(guī)格CD-ROM遇到的問題，對PP-TE及DPD-

T E 作 了 簡 要 的 說 明 。 希 望 讀 者 能 夠 通 過 本 文 對 循 跡 伺 服 方 式 P P 、 D P D 有 一 個 比 較 感 性 的 認(rèn) 識 ， 從 而 能 夠 在 此 基 礎(chǔ) 上 展 開 伺 服 相 關(guān) 的 開 發(fā) 工 作 。 在 實 際 進(jìn) 行 伺 服 開 發(fā) 時 ， 除 了 本 文 以 外 還 應(yīng) 參 考 更 多 的 伺 服相關(guān)資料。

更多精彩內(nèi)容請訪問eepw網(wǎng)站：http://www.eepw.com.cn/

拓展知識：

前沿拓展：

cd rom是什么

說明這是一張CD光盤,cd-rd光驅(qū)就可以識別讀取數(shù)據(jù)的光盤，當(dāng)然vcd光驅(qū)，**d光驅(qū)也可以讀取，因為vcd光驅(qū)和**d光驅(qū)都兼容cd

引言

這里以在實際工作中遇到的Bulk光頭讀Pit深度超規(guī)格 碟片時出現(xiàn)啟動NG或啟動延遲問題為例，通過分析及實際 測試

，提出了一種解決此類問題的方法。

1 問題原因分析

1.1 PP-TE伺服方式說明

產(chǎn)生問題時bulk光頭采用的伺服方式是PP-TE。PP-TE信 號產(chǎn)生方法利用了光的回折格子的特性，回折格子的特性 是指

： 0次光和 ± 1次之間干涉形成明暗相間的條紋，溝深 λ/4 時，pit邊沿處形成的回折格子的明暗效果最好。如圖1

所示。

PD上光強分布如圖2。(光點分別在位置①②③時，對

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/201702/344437.htm

圖1 回折格子的明暗效果

圖2 PD上光強分布示意圖

圖3 伺服信號TE/FE波形圖

圖4 光路示意圖

圖5 DPD-TE產(chǎn)生示意

應(yīng)的PD的示意圖如圖2所示，PP-TE=A-B)。

1.2 PP-TE伺服方式不穩(wěn)定原因

圖3為光點分別在圖1所示位置①②③時，對應(yīng)的PP-TE

的波形示意圖及PP方式下伺服信號波形圖。

在PP方式下，Bulk光頭讀Pit深度超規(guī)格CD-ROM，與通 常碟片比較，PP-TE信號的幅值輸出約為正常品的1/2～2/3， FBAL調(diào)整后PP-TE信號的TEc變化較大,導(dǎo)致Tracking/seek伺服 控制裕度降低，最終引起啟動NG或啟動延遲。

2 伺服對策方法

2.1 對策方法概要

第一，對于PP方式下FBAL調(diào)整后的TEc變動問題，對 策方法為FBAL調(diào)整后，伺服控制再次對TEc進(jìn)行補償。其 次，對于pit深度超規(guī)格CD-ROM的PP-TE方式伺服控制的裕 量 不 足 問 題 ， 對

策方法為CD-ROM

啟動時，第一采用 P P (P u s h – p u l l) -T E 伺 服 方 式 ， 然 后 判 斷 TE/A s信 號 幅 值。 如果TE/A S信 號 幅 值 小 于 設(shè) 定 的 閥 值 ， T E 伺 服 方 式 變 更 為 D P D ( D i f f e r e n t i a l P h a s e Detection)方式；如 果 T E / A S 信 號 幅 值 大 于 設(shè) 定 的 閥 值 ，TE伺服方式仍采用PP方式。當(dāng)CD-R/RW起動時，仍采用

PP-TE伺服方式。

2.2 DPD-TE方式說明

2.2.1 光路示意圖如圖4所示。

2.2.2 DPD-TE產(chǎn)生示意如圖5所示。

圖 6 為 光 點 分 別 在 如 圖 1 所 示 位 置 ① ② ③ 時 ， 對 應(yīng) 的

DPD-TE的波形示意圖及DPD方式下伺服信號波形圖。

循跡伺服方式變更后，伺服信號變好，Bulk光頭讀Pit 深度超規(guī)格CD－ ROM碟片時不良現(xiàn)象消失， 經(jīng)過測試確 認(rèn)，循跡伺服方式變更對其它碟片的讀盤能力無影響。

圖6 伺服信號TE/FE波形圖

3 結(jié)論

本文針對Bulk光頭讀Pit深度超規(guī)格CD-ROM遇到的問題，對PP-TE及DPD-

T E 作 了 簡 要 的 說 明 。 希 望 讀 者 能 夠 通 過 本 文 對 循 跡 伺 服 方 式 P P 、 D P D 有 一 個 比 較 感 性 的 認(rèn) 識 ， 從 而 能 夠 在 此 基 礎(chǔ) 上 展 開 伺 服 相 關(guān) 的 開 發(fā) 工 作 。 在 實 際 進(jìn) 行 伺 服 開 發(fā) 時 ， 除 了 本 文 以 外 還 應(yīng) 參 考 更 多 的 伺 服相關(guān)資料。

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